Eljárás kisméretű fém-egykristály leképezésére, elektronsugár segítségével. A vizsgálandó kristály tűhegyesre kiképezett darabja és az azt koncentrikusan körülvevő fluoreszkáló (pl. fényporral bevont) ernyő közé 10...50 kV feszültséget kapcsolnak; a leképezést az ernyőn a kristály felületéről - mint katódról - kiinduló elektronok végzik. téremissziós mikroszkópiával felületen adszorbeált gázoknak a kilépési munkára gyakorolt hatását lehet tanulmányozni.